BIB 老化测试系列
存储芯片老化测试设备。
SOLUTIONS
解决方案
从晶圆到成品的全流程存储服务
THREE TEST SERIES
三大测试设备系列
围绕存储芯片老化、系统级测试与模组测试，提供设备及项目协作支持。
SLT 测试系列
存储芯片系统级测试自动化设备。
模组测试系列
存储模组单板测试设备。
全流程品质检查
wafer 测试合作、封测片二次检查与成品出货检查。
SERVICE SOLUTIONS
三大服务方案
围绕测试合作、封装检查及存储模组交付形成可沟通的服务路径。
COOPERATION FLOW
合作服务流程
以清晰的需求确认和测试检查节点推进项目协作。
需求对接
确认产品、接口、测试与交付需求。
验证评估
评估测试系列、样品及工程协作范围。
封测检查
结合台湾工厂与合作资源开展检查。
成品出货
完成二次检查与项目约定的出货流程。
有晶圆测试或封测合作需求？
提供产品系列与验证目标，我们将进一步确认协作范围。